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阻变存储器由于具有读取速度快、存储密度大、存储时间长、低功耗和结构简单等主要特点, 已被看为下一代非易失性随机存储器的重要候选者. 本文研究了Ni/ZnO/BiFeO3/ZnO/ITO多层纳米薄膜器件的电阻开关特性, 发现器件具有明显的双极性电阻开关效应, 而且样品的电阻开关特性随外加磁场的干涉会有明显变化, 包括开关比、耐受性和电导率. 磁场对Ni/ZnO/BiFeO3/ZnO/ITO薄膜器件的显著调控作用应该起源于磁场使得Ni/ZnO界面处的肖特基势垒改变. 这项工作可以为磁控电阻开关效应提供一种可能的新机制, 在未来的存储器器件中具有重要的潜在应用价值.
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《Ni/ZnO/BiFeO3/ZnO多层膜中磁场调控的电阻开关效应》
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文件号：296521
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