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本文在固定Ga原子含量为8%的情况下, 结合高分辨率X射线光电子能谱和拉曼散射光谱对硫系玻璃GexGa8S92–x (x = 24%, 26.67%, 29.6%, 32%和36%)的结构进行了研究. 通过分析玻璃结构中各单元结构的演变情况, 发现玻璃内部网络结构主要为S原子桥接GeS4和GaS4四面体结构. 随着Ge含量的逐渐增大, S链状或环状结构单元迅速减少, 并消失于Ge26.67Ga8S65.33玻璃组分中; 而类乙烷结构S3Ge-GeS3中的Ge—Ge同极键和S3Ge/Ga-Ga/GeS3结构中的M—M (Ge—Ge, Ga—Ga或Ge—Ga)同极键同时出现于Ge29.6Ga8S62.4玻璃中, 并且其结构数量随着Ge含量的增大而逐渐增加. 由此可以判定, 首先, 在硫系玻璃GexGa8S92–x结构中Ge和Ga原子均主要以4配位的形式出现, 而S原子则主要以2配位的形式出现. 其次, M—M键的存在导致纳米相分离, 玻璃网络结构的有序化程度降低.
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《结合高分辨率X射线光电子能谱和拉曼散射研究GexGa8S92–x玻璃结构》
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文件号：296230
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