基于特征谱线与约束拟合相位的绝对波数标定方法

时间:2022-04-18 06:55:54
作者:王迪,韩涛,钱黄河,刘智毅,丁志华
关键字:谱域光学相干层析成像, 光谱相位, 绝对波数标定, 窗约束拟合
DOI:10.7498/aps.71.20220314
查看次数:147

如需要完整文档点击下方 "点击下载文档" 按钮

谱域光学相干层析成像(spectral-domain optical coherence tomography, SD-OCT)系统中普遍存在波数域的非线性采样问题. 为实现常规快速傅里叶变换算法下离散界面的精确定位与OCT图像的高质量重建, 需要解决光谱仪中离散采样点绝对波数的精确标定问题. 本文提出了一种基于精确光程差下特征谱线与约束拟合相位的绝对波数标定方法, 在谱域OCT系统的样品臂中, 使用具有精确厚度差异的金属量规, 获得特征谱线对应的绝对相位值, 进一步精确求解出特征谱线对应的相位包裹次数, 克服了常规干涉光谱相位方法中普遍存在的2π 歧义, 结合窗口约束条件下高信噪比区域的拟合相位, 实现光谱仪采样点绝对波数的精确标定. 通过全面比较本文方法与传统插值重采样方法在离散界面定位、轴向分辨率以及图像重建质量等方面的差异, 验证了本方法的显著优势.

如需要完整文档点击下方 "点击下载文档" 按钮

基于特征谱线与约束拟合相位的绝对波数标定方法
《基于特征谱线与约束拟合相位的绝对波数标定方法》
完整文档 下载到本地,方便收藏和查阅
文件号:296383
基于特征谱线与约束拟合相位的绝对波数标定方法
点击下载文档
基于特征谱线与约束拟合相位的绝对波数标定方法

点击下载 文件号:296383(点击复制) 公众号(点击复制)

x