如需要完整文档点击下方 "点击下载文档" 按钮

X射线自由电子激光(XFEL)脉冲时间诊断技术常用于实验站附近XFEL脉冲和配套激光的相对到达时间探测, 是飞秒级XFEL泵浦探测实验的重要辅助技术, 为XFEL和激光泵浦探测实验中两种脉冲对准提供参考信号. 随着XFEL向高重频、短脉冲发展, 对时间诊断中的诊断频率、泵浦样品和分辨率提出了更高的要求. 该技术通过泵浦探测和光学互相关实现, 当XFEL脉冲入射高带宽半导体样品瞬间, 导致样品复折射率突变, 使XFEL到达时间编码于突变空间. 本文基于空间编码和光谱编码两种方法, 研发设计了XFEL单脉冲到达时间诊断装置; 并通过Beer’s吸收理论和原子散射理论对X射线与样品作用过程进行模拟, 研究了该过程中X射线吸收与折射率突变的响应程度, 完善了样品的分析选择模型; 对光谱编码中的啁啾脉冲调制进行分析, 得到色散介质和脉冲本征参数对诊断分辨率的影响. 该研究对XFEL脉冲到达时间诊断装置的应用具有指导意义.

如需要完整文档点击下方 "点击下载文档" 按钮

《高重频硬X射线自由电子激光脉冲到达时间诊断方法研究》

将 完整文档 下载到本地，方便收藏和查阅

文件号：295877

点击下载文档