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在天线方向图测试中，紧缩场测试(CATR)是远场测试的一种有效替代手段，但多径效应的存在，会显著影响紧缩场测试的精确度。本文提出一种能在紧缩场测试中有效消除多径效应的方法。该方法把待测天线(AUT)沿任意特定方向等距移动，进行多次测量，不同位置测得的多径信号会有不同的相移因子，利用这些相移因子构造一范德蒙特矩阵，对该范德蒙特矩阵直接求逆，可得到被测单元对所有信号的响应输出，其中，零度方向的响应输出即为待测单元的方向图。仿真及测试数据偏差均小于0.5 dB，表明该方法可以对多径效应进行有效的消除。

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《一种消除紧缩场测试中多径效应的方法》

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文件号：046966

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