错误相关负电位单次检测技术研究

时间:2023-06-03 15:10:50
作者:张锐, 逯鹏, 牛新, 刘素杰, 胡玉霞
关键字:错误相关负电位,脑—机接口,小波变换,时频域特征,单次检测
DOI:10.7507/1001-5515.201708043
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当个体在感知发生错误时,会在头皮额中央区产生错误相关负电位(ERN)。ERN 信噪比低、个体差异大,单次检测 ERN 比较困难。本文采用 ERN 大脑活动模式图和离线识别正确率的方法优选脑电信号通道,进一步基于 ERN 离线识别正确率对时间段进行优选,然后基于小波变换对 ERN 的低频时域特征与高频时—频域特征进行了分析,在此基础上提出了 ERN 的单次检测算法。最后,通过使用优选出的 6 个通道反馈刺激后 200~600 ms 的脑电数据,提取 0~3.9 Hz 频段的降采样点特征和 3.9~15.6 Hz 频段的能量、方差特征,对 ERN 和非 ERN 进行单次识别,在 10 名受试者中实现了 72.0% ± 9.6% 的识别正确率。本文的研究结果有助于错误指令实时纠正技术在脑—机接口在线系统中的应用。

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《错误相关负电位单次检测技术研究》
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